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Introduction to Focused Ion Beams -

Introduction to Focused Ion Beams

Instrumentation, Theory, Techniques and Practice
Buch | Softcover
357 Seiten
2010 | Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2005
Springer-Verlag New York Inc.
978-1-4419-3574-8 (ISBN)
CHF 194,70 inkl. MwSt
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Introduction to Focused Ion Beams is geared towards techniques and applications. This is the only text that discusses and presents the theory directly related to applications and the only one that discusses the vast applications and techniques used in FIBs and dual platform instruments.

The Focused Ion Beam Instrument.- Ion - Solid Interactions.- Focused Ion Beam Gases for Deposition and Enhanced Etch.- Three-Dimensional Nanofabrication Using Focused Ion Beams.- Device Edits and Modifications.- The Uses of Dual Beam FIB in Microelectronic Failure Analysis.- High Resolution Live Imaging of FIB Milling Processes for Optimum Accuracy.- FIB for Materials Science Applications - a Review.- Practical Aspects of FIB Tem Specimen Preparation.- FIB Lift-Out Specimen Preparation Techniques.- A FIB Micro-Sampling Technique and a Site Specific TEM Specimen Preparation Method.- Dual-Beam (FIB-SEM) Systems.- Focused Ion Beam Secondary Ion Mass Spectrometry (FIB-SIMS).- Quantitative Three-Dimensional Analysis Using Focused Ion Beam Microscopy.- Application of FIB in Combination with Auger Electron Spectroscopy.

Zusatzinfo 28 Illustrations, color; 6 Illustrations, black and white; XVII, 357 p. 34 illus., 28 illus. in color.
Verlagsort New York, NY
Sprache englisch
Maße 155 x 235 mm
Themenwelt Naturwissenschaften Chemie Analytische Chemie
Naturwissenschaften Physik / Astronomie Atom- / Kern- / Molekularphysik
Naturwissenschaften Physik / Astronomie Festkörperphysik
Naturwissenschaften Physik / Astronomie Hochenergiephysik / Teilchenphysik
Naturwissenschaften Physik / Astronomie Thermodynamik
Technik Elektrotechnik / Energietechnik
Technik Maschinenbau
ISBN-10 1-4419-3574-6 / 1441935746
ISBN-13 978-1-4419-3574-8 / 9781441935748
Zustand Neuware
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