Introduction to Focused Ion Beams
Springer-Verlag New York Inc.
978-1-4419-3574-8 (ISBN)
The Focused Ion Beam Instrument.- Ion - Solid Interactions.- Focused Ion Beam Gases for Deposition and Enhanced Etch.- Three-Dimensional Nanofabrication Using Focused Ion Beams.- Device Edits and Modifications.- The Uses of Dual Beam FIB in Microelectronic Failure Analysis.- High Resolution Live Imaging of FIB Milling Processes for Optimum Accuracy.- FIB for Materials Science Applications - a Review.- Practical Aspects of FIB Tem Specimen Preparation.- FIB Lift-Out Specimen Preparation Techniques.- A FIB Micro-Sampling Technique and a Site Specific TEM Specimen Preparation Method.- Dual-Beam (FIB-SEM) Systems.- Focused Ion Beam Secondary Ion Mass Spectrometry (FIB-SIMS).- Quantitative Three-Dimensional Analysis Using Focused Ion Beam Microscopy.- Application of FIB in Combination with Auger Electron Spectroscopy.
Zusatzinfo | 28 Illustrations, color; 6 Illustrations, black and white; XVII, 357 p. 34 illus., 28 illus. in color. |
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Verlagsort | New York, NY |
Sprache | englisch |
Maße | 155 x 235 mm |
Themenwelt | Naturwissenschaften ► Chemie ► Analytische Chemie |
Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Atom- / Kern- / Molekularphysik | |
Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Festkörperphysik | |
Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Hochenergiephysik / Teilchenphysik | |
Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Thermodynamik | |
Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik | |
Technik ► Maschinenbau | |
ISBN-10 | 1-4419-3574-6 / 1441935746 |
ISBN-13 | 978-1-4419-3574-8 / 9781441935748 |
Zustand | Neuware |
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