Magnetic Microscopy of Layered Structures
Springer Berlin (Verlag)
978-3-662-44531-0 (ISBN)
Peter Fischer, Jahrgang 1952, studierter Sekundarlehrer phil. II (Uni Zürich) und Informatik-Ingenieur (Hochschule Technik und Architektur Luzern). Fischer ist heute Dozent für Informatik an der Fachhochschule Zentralschweiz. Seine Leidenschaften Datentechnik, Schreiben und Unterrichten hat er in unzähligen Publikationen wie z.B. Fachartikeln und Lehr- wie Fachbüchern zur Informatik und Mathematik vereint. Der Autor hat in der Schweiz schon in den 80er Jahren den Informatik-Unterricht an der Volksschul-Oberstufe vorangetrieben und für diese Stufe erste interkantonale Lehrmittel verfasst. Seit 1986 profitieren Zehntausende von Leserinnen und Lesern von seinen fachlich-fundierten wie leicht nachvollziehbaren Publikationen.
Photoelectron Emission Microscopy Using X-Ray Circular Magnetic Dichroism.- Imaging Antiferromagnetic Domains by Photoelectron Emission Microscopy.- Transmission X-Ray Microscopy for the Element-Resolved Imaging of Magnetic Domains.- Layer-Sensitive Magneto-Optical Kerr Effect Microscopy.
Erscheint lt. Verlag | 17.11.2014 |
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Reihe/Serie | Springer Series in Surface Sciences |
Zusatzinfo | XI, 246 p. 112 illus., 6 illus. in color. |
Verlagsort | Berlin |
Sprache | englisch |
Maße | 155 x 235 mm |
Gewicht | 508 g |
Themenwelt | Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Atom- / Kern- / Molekularphysik |
Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Elektrodynamik | |
Schlagworte | Layered structures • Magnetic domain imaging • Magnetic thin films and multilayers • Micromagnetism • Microscopy |
ISBN-10 | 3-662-44531-X / 366244531X |
ISBN-13 | 978-3-662-44531-0 / 9783662445310 |
Zustand | Neuware |
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