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Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods

A. Howie, Ugo Valdre (Herausgeber)

Buch | Hardcover
319 Seiten
1989
Kluwer Academic / Plenum Publishers (Verlag)
978-0-306-43086-2 (ISBN)
CHF 119,75 inkl. MwSt
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Reihe/Serie NATO ASI Series B: Physics ; Vol 191
Verlagsort Dordrecht
Sprache englisch
Themenwelt Naturwissenschaften Physik / Astronomie Festkörperphysik
ISBN-10 0-306-43086-X / 030643086X
ISBN-13 978-0-306-43086-2 / 9780306430862
Zustand Neuware
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