Econometric Modeling (eBook)
384 Seiten
Princeton University Press (Verlag)
978-1-4008-4565-1 (ISBN)
David F. Hendry is Professor of Economics at the University of Oxford and a Fellow of Nuffield College. Bent Nielsen is Reader in Econometrics at the University of Oxford and a Fellow of Nuffield College
Erscheint lt. Verlag | 21.6.2012 |
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Zusatzinfo | 50 line illus. |
Verlagsort | Princeton |
Sprache | englisch |
Themenwelt | Wirtschaft ► Volkswirtschaftslehre ► Ökonometrie |
Schlagworte | Accuracy and precision • Asymptotic Distribution • autocorrelation • Autoregressive conditional heteroskedasticity • Autoregressive model • Bayesian • Bayesian Statistics • Bernoulli distribution • Bias of an estimator • Calculation • central limit theorem • Chow Test • Cointegration • conditional expectation • Conditional probability distribution • Confidence interval • Confidence region • Correlation and dependence • Correlogram • Count Data • Cross-Sectional Data • Cross-sectional regression • Distribution Function • Dummy variable (statistics) • Econometric model • Empirical distribution function • Equation • Error Term • estimation • Estimator • Exogeny • Exploratory data analysis • Fair coin • F-distribution • Forecast Error • Forecasting • F-Test • Granger Causality • Heteroscedasticity • inference • instrumental variable • Joint probability distribution • law of large numbers • Least absolute deviations • Least Squares • Likelihood Function • Likelihood-ratio test • linear regression • Logistic Regression • Lucas critique • Marginal distribution • Markov process • Mathematical Optimization • maximum likelihood estimation • Model Selection • Monte Carlo Method • Moving-average model • Multiple Correlation • Multivariate normal distribution • Nonparametric regression • Normal distribution • Normality test • One-Tailed Test • opportunity cost • orthogonalization • Parameter • Partial correlation • poisson regression • Probability • Probit Model • p-value • Quantile • Quantity • Quasi-Likelihood • Random Variable • Regression Analysis • Residual sum of squares • round-off error • Seemingly unrelated regressions • Selection bias • Simple Linear Regression • Skewness • standard deviation • standard error • stationary process • Statistic • Student's t-test • Sufficient statistic • summary statistics • test statistic • Time Series • t-statistic • Type I and type II errors • unit root • Unit root test • Utility • Variable (mathematics) • Variance • vector autoregression • White test |
ISBN-10 | 1-4008-4565-3 / 1400845653 |
ISBN-13 | 978-1-4008-4565-1 / 9781400845651 |
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