Charakterisierung von Titandioxidschichten abgeschieden aus neuentwickelten Precursoren mittels MOCVD
Seiten
2005
|
1., Aufl.
Shaker (Verlag)
978-3-8322-3778-3 (ISBN)
Shaker (Verlag)
978-3-8322-3778-3 (ISBN)
- Titel ist leider vergriffen;
keine Neuauflage - Artikel merken
- 2005/2
| Reihe/Serie | Erlanger Berichte Mikroelektronik ; 2005/2 |
|---|---|
| Sprache | deutsch |
| Maße | 148 x 210 mm |
| Gewicht | 212 g |
| Einbandart | Paperback |
| Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
| Schlagworte | dünne Schichten • Elektronische Bauelemente • Halbleitertechnologie • HC/Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik • Hoch-epsilon Schichten • Mikroelektronik |
| ISBN-10 | 3-8322-3778-X / 383223778X |
| ISBN-13 | 978-3-8322-3778-3 / 9783832237783 |
| Zustand | Neuware |
| Haben Sie eine Frage zum Produkt? |
Mehr entdecken
aus dem Bereich
aus dem Bereich
Wegweiser für Elektrofachkräfte
Buch | Hardcover (2024)
VDE VERLAG
CHF 67,20
