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Surface Source Representations for the Accurate and Stable Solution of Electromagnetic Integral Equations

Buch | Hardcover
258 Seiten
2023
TUM.University Press (Verlag)
978-3-95884-081-2 (ISBN)
CHF 65,80 inkl. MwSt
Boundary integral equations for the analysis of scattering and radiation scenarios with reduced computational effort, increased reliability, and increased accuracy are discussed. The contributions consist of two parts: first, the simulation of scenarios involving perfectly conducting objects and second, the post-processing of measured radiated and scattered fields for near-field far-field transformations, involving settings with complex measurement data, echo suppression, and phase retrieval. Randintegralgleichungen zur Analyse von Streu- und Abstrahlszenarien mit reduziertem Rechenaufwand, erhöhter Zuverlässigkeit und erhöhter Genauigkeit werden diskutiert. Die Beiträge umfassen zwei Teile: zum einen die Simulation von Szenarien mit perfekt leitfähigen Objekten und zum anderen die Aufbereitung von gemessenen Strahlungs- und Streufeldern für Nahfeld-Fernfeld-Transformationen, wobei Situationen mit komplexen Messdaten, Echounterdrückung und Phasenrekonstruktion behandelt werden.
Erscheinungsdatum
Verlagsort München
Sprache englisch
Maße 170 x 240 mm
Themenwelt Technik Elektrotechnik / Energietechnik
Schlagworte Antenna Measurement • Boundary element method • Chair of High-Frequency Engineering • computational electromagnetics • Department of Electrical Engineering • discretization accuracy • echo suppression • , electromagnetic scattering and radiation • elektromagnetische Integralgleichungen • Elektrotechnik • Equivalence Principle • Hochfrequenztechnik • inverse problem • method of moments • Nahfeld-Fernfeld-Transformationen • near-field to far-field transformation • Oberflächenquelldarstellung • Phase retrieval • Radar Cross Section • radio-frequency engineering • Regularization • source reconstruction method • Technische Universität München • tum • , TUM School of Computation, Information and Technology • TU München
ISBN-10 3-95884-081-7 / 3958840817
ISBN-13 978-3-95884-081-2 / 9783958840812
Zustand Neuware
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