Thermal Conductivity Measurements in Atomically Thin Materials and Devices (eBook)
XV, 50 Seiten
Springer Singapore (Verlag)
978-981-15-5348-6 (ISBN)
This book assesses the thermal feasibility of using materials with atomically thin layers such as graphene and the transition metal dichalcogenides family in electronics and optoelectronics applications. The focus is on thermal conductivity measurement techniques currently available for the investigation of thermal performance at the material and device level. In addition to providing detailed information on the available techniques, the book introduces readers to novel techniques based on photothermal effects.
Dr. Kas?rga completed his Ph.D. in December 2013 and right after moved to Bilkent University as an Assistant Prof. Since 2015 he has been serving as associate director of the National Nanotechnology Research Center at Bilkent University. His research interests are in the area of strongly correlated systems and 2D materials.
This book assesses the thermal feasibility of using materials with atomically thin layers such as graphene and the transition metal dichalcogenides family in electronics and optoelectronics applications. The focus is on thermal conductivity measurement techniques currently available for the investigation of thermal performance at the material and device level. In addition to providing detailed information on the available techniques, the book introduces readers to novel techniques based on photothermal effects.
Erscheint lt. Verlag | 19.5.2020 |
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Reihe/Serie | Nanoscience and Nanotechnology |
Nanoscience and Nanotechnology | |
SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology | SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology |
Zusatzinfo | XV, 50 p. 24 illus., 21 illus. in color. |
Sprache | englisch |
Themenwelt | Naturwissenschaften ► Chemie ► Analytische Chemie |
Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Atom- / Kern- / Molekularphysik | |
Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Festkörperphysik | |
Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik | |
Technik ► Maschinenbau | |
Schlagworte | Atomically Thin Materials • Graphene Layers • Nanosheets • Photothermal Effects • Thermal Conductivity Measurement • Thermal Management of Materials • Transition metal dichalcogenides • Van Der Waals Stacking |
ISBN-10 | 981-15-5348-3 / 9811553483 |
ISBN-13 | 978-981-15-5348-6 / 9789811553486 |
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Größe: 2,8 MB
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