Defect and Diffusion Forum Vols. 148-149
Seiten
1997
Trans Tech Publications Ltd (Verlag)
978-3-908450-98-6 (ISBN)
Trans Tech Publications Ltd (Verlag)
978-3-908450-98-6 (ISBN)
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Journal issue
Characterization of the Defect Structure in Molecular Organic Crystals Using Ultrasonic Measurements
Theoretical Description of RED: From Dynamics of Defects to Rules for Phase Formation
Point Defect Behaviour Resulting from Dopant Diffusions in Silicon
Defects Below Mask Edges in Silicon Induced by Amorphizing Implantations
Transmission Electron Microscopy Study of the Microstructure of a GaN Film Grown on Sapphire by Organometallic Vapor Phase Expitaxy
Acceptor Impurities in Silicion Carbide: Electron Paramagnetic Resonance and Optically Detected Magnetic Resonance Studies
Hydrogen Diffusion Coefficient Dependencies on Hydrogen Contents in PdAg Alloys
Effect of Crystal Defects in FeNiC Alloys on Subsequent Martensitic Transformation
Erscheint lt. Verlag | 3.3.1997 |
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Reihe/Serie | Defect and Diffusion Forum ; Volumes 148-149 |
Verlagsort | Zurich |
Sprache | englisch |
Maße | 170 x 240 mm |
Gewicht | 700 g |
Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
Technik ► Maschinenbau | |
ISBN-10 | 3-908450-98-5 / 3908450985 |
ISBN-13 | 978-3-908450-98-6 / 9783908450986 |
Zustand | Neuware |
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