Annual Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium
Seiten
1997
I.E.E.E.Press (Verlag)
978-0-7803-3764-0 (ISBN)
I.E.E.E.Press (Verlag)
978-0-7803-3764-0 (ISBN)
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This text covers the electrical overstress (EOS) and electrostatic discharge (ESD) phenomena and protection issues for semiconductor devices and components. These issues include: device physics; protection circuits; testing and measurement; factory control; materials; and system effects.
| Erscheint lt. Verlag | 31.12.1997 |
|---|---|
| Verlagsort | Piscataway NJ |
| Sprache | englisch |
| Maße | 216 x 279 mm |
| Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
| ISBN-10 | 0-7803-3764-6 / 0780337646 |
| ISBN-13 | 978-0-7803-3764-0 / 9780780337640 |
| Zustand | Neuware |
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