Automatische Sichtprüfung
Springer Berlin (Verlag)
978-3-662-47785-4 (ISBN)
Das Lehrbuch behandelt systematisch die Bildgewinnung für die automatische Sichtprüfung. Die Autoren leiten die wesentlichen Methoden detailliert ab und stellen alle gängigen Bildgewinnungsverfahren in einem strukturierten Zusammenhang dar.
Der zweite Teil des Buches ist der Bildsignalbeschreibung und der Bildauswertung gewidmet, wobei insbesondere Methoden behandelt werden, die für die automatische Sichtprüfung relevant sind.
Die Autoren skizzieren die Herleitung der beschriebenen Methoden, ohne sich in mathematischen Details zu verlieren. Ihr Ziel ist, dass der Leser die Zusammenhänge wirklich versteht und das "große Bild" des Fachgebietes erkennt. Das Buch ist in sich geschlossen und bedarf zum Verständnis keiner ergänzenden Literatur.
Die 2. Auflage wurde gründlich überarbeitet, inhaltlich ergänzt und aktualisiert. Neue Beispiele verdeutlichen den Bezug zur Praxis.
Die Zielgruppen
Das Buch eignet sich für Studierende der Informatik, Elektro- und Informationstechnik, der Physik und des Maschinenbaus. Ebenso wendet es sich an Ingenieure in der Automatisierungstechnik.
Prof. Dr.-Ing. habil. Jürgen Beyerer hat mit einer Arbeit zur Texturanalyse und damit auf dem Gebiet Bildverarbeitung 1994 promoviert, habilitierte sich im Jahr 1994 auf dem Gebiet Messtechnik und leitete 5 Jahre lang ein Kleinunternehmen, das Automatische Sichtprüfung im industriellen Umfeld einsetzte und innovative Systeme entwickelte. Seit 2004 ist Prof. Beyerer Leiter des Fraunhofer-Instituts für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung IOSB, eines Schwerpunktinstituts der Fraunhofer-Gesellschaft zum Thema Bildauswertung in Karlsruhe. Ebenfalls seit 2004 hat er den Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme (Vision and Fusion Lab) im Institut für Anthropomatik am KIT inne, das sich intensiv mit Fragen der Bildgewinnung und -auswertung auseinandersetzt. Prof. Dr.-Ing. Fernando Puente León studierte Elektrotechnik an der Universität Karlsruhe (TH). Nach seiner Promotion auf dem Gebiet der Bildauswertung übernahm er am Institut für Mess- und Regelungstechnik der Universität Karlsruhe die Leitung der Forschungsgruppe "Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung". Ab 2001 war er bei der Firma DS2 im Bereich der Signalverarbeitung als Gruppenleiter tätig. Zum April 2003 wurde er auf die Professur für Verteilte Messsysteme an der TU München berufen, wo er das Fachgebiet "Automatische Sichtprüfung und Bildauswertung" in Forschung und Lehre vertrat. Seit Oktober 2008 leitet er das Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) am KIT. Er ist Mitglied des wissenschaftlichen Beirats der Fraunhofer-Allianz Vision und der AMA sowie der Fachzeitschriften Information Fusion, Metrology & Measurement Systems und Transactions on Systems, Signals and Devices. Christian Frese hat sich bereits während seines Studiums der Informatik intensiv mit dem Thema Bildverarbeitung beschäftigt. Als wissenschaftlicher Mitarbeiter hat er Einblick in aktuelle Forschungsarbeiten zur automatischen Sichtprüfung, Bildverarbeitung und -auswertung erhalten und war selbst an Projekten zur Auswertung von Stereobildserien beteiligt. Er hat ca. 20 wissenschaftliche Veröffentlichungen in den Bereichen mobile Robotik und Bildverarbeitung verfasst, die Mehrzahl davon als Erstautor.
Teil I: Bildgewinnung.- Licht.- Optische Abbildung.- Radiometrie.- Farbe.- Sensoren zur Bildgewinnung.- Bildaufnahmeverfahren.- Teil II: Bildauswertung.- Bildsignale.- Vorverarbeitung und Bildverbesserung.- Bildrestauration.- Segmentierung.- Morphologische Bildverarbeitung.- Texturanalyse.- Detektion.- Multiskalenanalyse.
| Erscheinungsdatum | 22.09.2016 |
|---|---|
| Co-Autor | Johannes Meyer |
| Zusatzinfo | XXVIII, 973 S. 491 Abb., 260 Abb. in Farbe. |
| Verlagsort | Berlin |
| Sprache | deutsch |
| Maße | 168 x 240 mm |
| Gewicht | 1696 g |
| Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
| Schlagworte | Automated Visual • Automatische Inspektion • Automatische Sichtprüfung • Bildauswertung • Bildverarbeitung • computer vision • Engineering • Image Processing • image processing and computer vision • Imaging systems and technology • Industrial Machine Vision • Inspection • Measurement Science and Instrumentation • Optische Inspektion • Optische Messtechnik • optische Qualitätsprüfung • Qualitätssicherung • Robotics • Robotics and Automation • Scientific standards, measurement etc • Signal, Image and Speech Processing • Signal Processing |
| ISBN-10 | 3-662-47785-8 / 3662477858 |
| ISBN-13 | 978-3-662-47785-4 / 9783662477854 |
| Zustand | Neuware |
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