Ellipsometry at the Nanoscale (eBook)
XXIV, 730 Seiten
Springer Berlin (Verlag)
978-3-642-33956-1 (ISBN)
Preamble.- Preface.- A Brief History and State of the Art of Ellipsometry.-Advanced Mueller Ellipsometry Instrumentation and Data Analysis.- Data Analysis for Nanomaterials: Effective Medium Approximation, its Limits and Implementations.- Relationship between Surface Morphology and Effective Medium Roughness.- Plasmonics and Effective-Medium Theory.- Thin films of Nanostructured Plasmonic Noble Metals.- Spectroscopic Ellipsometry on Metallic Gratings.- Mueller matrix applied to nanostructures.- Spectroscopic Ellipsometry and Magneto-Optical Kerr Spectroscopy of Magnetic Garnet Thin Films Incorporating Plasmonic Nanoparticles.- Generalized Ellipsometry Characterization of Sculptured Thin Films made by Glancing Angle Deposition.- THz Generalized Ellipsometry characterization of highly-ordered 3-dimensional Nanostructures.- Infrared ellipsometric investigations of free carriers and lattice vibrations in superconducting cuprates.- Real-time Ellipsometry for Probing charge-transfer processes at the nanoscale.- Polarimetric and other Optical Probes for the Solid - Liquid Interface.- Spectroscopic Ellipsometry for functional nano-layers of flexible organic electronic devices.- Spectroscopic Ellipsometry of Nanoscale Materials for Semiconductor Device Applications.- Ellipsometry of semiconductor nanocrystals.- Spectroscopic Ellipsometry for Inline Process Control in the Semiconductor Industry.- Thin film applications in research and industry characterized by spectroscopic ellipsometry.- Ellipsometry and Correlation Measurements.- Nanotechnology: Applications and markets, present and future.
Erscheint lt. Verlag | 12.3.2013 |
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Zusatzinfo | XXIV, 730 p. 423 illus., 106 illus. in color. |
Verlagsort | Berlin |
Sprache | englisch |
Themenwelt | Technik ► Maschinenbau |
Schlagworte | Correlation measurements • Kerr Spectroscopy • Plasmonics theory • Polarimetry • Polarized light |
ISBN-10 | 3-642-33956-5 / 3642339565 |
ISBN-13 | 978-3-642-33956-1 / 9783642339561 |
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Größe: 29,6 MB
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