EMV - Messung von Spannungsschwankungen und Flickern mit dem IEC-Flickermeter
VDE VERLAG
978-3-8007-2525-0 (ISBN)
- Titel erscheint in neuer Auflage
- Artikel merken
Prof. Dr.-Ing. Wilhelm Mombauer (VDE) ist Hochschullehrer an der Fachhochschule Mannheim. Nach dem Studium der Elektrotechnik an der TU Berlin war er wissenschaftlicher Mitarbeiter am Institut für Theoretische Elektrotechnik der selben Hochschule, wo er 1985 promoviert wurde. Bis zu seiner Berufung im Jahr 1993 war er bei der FGH in Mannheim tätig. Seit Anfang der 80er Jahre hat er mehrere Forschungsprojekte zum Thema "Spannungsqualität" durchgeführt. Er ist Mitarbeiter in nationalen und internationalen Gremien, u. a. in IEC, UIE, CIGRE/GIRED und Obmann des DKE-Arbeitskreises 767.1.2 (Flicker). Zahlreiche Veröffentlichungen haben ihn international zu einem anerkannten und führenden Experten auf dem Gebiet der Flickermesstechnik gemacht. Er führt jährlich mehrere Seminare an den Technischen Akademien Esslingen, Dresden, Sarnen (CH), Wuppertal zum Thema Netzrückwirkungen durch.
Reihe/Serie | VDE-Schriftenreihe - Normen verständlich ; 109 |
---|---|
Sprache | deutsch |
Gewicht | 365 g |
Einbandart | kartoniert |
Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
Schlagworte | Elektromagnetische Verträglichkeit • Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik • HC/Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik |
ISBN-10 | 3-8007-2525-8 / 3800725258 |
ISBN-13 | 978-3-8007-2525-0 / 9783800725250 |
Zustand | Neuware |
Informationen gemäß Produktsicherheitsverordnung (GPSR) | |
Haben Sie eine Frage zum Produkt? |
aus dem Bereich