Blick ins Buch

Entwurf selbsttestbarer Schaltungen

Albrecht P. Ströle (Autor)

Buch | Softcover

322 Seiten

1998 | 1998
Vieweg & Teubner (Verlag)
978-3-8154-2314-1 (ISBN)

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Die heutige Halbleitertechnologie kann nicht garantieren, daß alle gefertigten Chips korrekt funktionieren, selbst wenn der Entwurf fehlerfrei ist. Dieses Buch spannt einen Bogen von den Defekten bei der Halbleiterfertigung über die klassischen Testmethoden hin zu Selbsttestverfahren und den neuesten Forschungsarbeiten, die auf eine Integration von Entwurf und Test zielen und aus Verhaltensbeschreibungen automatisch gut testbare Schaltungen synthetisieren. Für den Selbsttest werden alle notwendigen Hilfsmittel wie Testmustergeneratoren und Kompaktierer für die Testantworten in die Schaltung eingebaut, so daß der Chip sich autonom, ohne teure externe Geräte testen kann. Der Testablauf wird dann so geplant, daß viele Teilschaltungen gleichzeitig bearbeitet werden und der gesamte Chiptest nur kurze Zeit benötigt.

1 Einleitung.- 1.1 Testprobleme.- 1.2 Selbsttest als Lösung.- 1.3 Aufbau des Buchs.- 2 Defekte und Fehler.- 2.1 Defekte bei der Halbleiterfertigung.- 2.2 Bestimmung der realistischen Fehler.- 3 Teststrategien.- 3.1 Schaltungsbeschreibung.- 3.2 Fehlermodelle und Testmuster.- 3.3 Verbesserung der Testbarkeit.- 3.4 Durchführung des Tests.- 3.5 Auswahl einer Teststrategie.- 4 Methoden und Hardware-Strukturen für Mustererzeugung und Kompaktierung.- 4.1 Rückgekoppelte Schieberegister.- 4.2 Zellulare Automaten.- 4.3 Multifunktionale Testregister.- 4.4 Mustererzeugung und Kompaktierung mit arithmetischen Funktionseinheiten.- 5 Synthese selbsttestbarer Schaltungen.- 5.1 Selbsttestbare Strukturen.- 5.2 Synthese leicht testbarer Steuerwerke.- 5.3 High-Level-Synthese für leicht testbare Datenpfade.- 5.4 Optimaler Testregistereinbau.- 5.5 Planung des Testablaufs.- 6 Schluß.- 7 Literatur.- A Grundbegriffe aus der Graphentheorie.- B Grundbegriffe aus der Theorie der Markovketten.- C Benchmark-Schaltungen.

Erscheint lt. Verlag	1.1.1998
Reihe/Serie	Teubner Texte zur Informatik
Zusatzinfo	322 S. Mit 144 Bildern.
Verlagsort	Wiesbaden
Sprache	deutsch
Maße	162 x 235 mm
Gewicht	504 g
Themenwelt	Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik
Schlagworte	Einheit • Entwurf • Fehler • Fertigung • Forschung • Halbleiterfertigung • Hardware-Strukturen • Methoden • Mustererzeugung • Planung • Schaltung • Schaltungsbeschreibung • Schieberegister • Testprobleme • Teststrategien • Testverfahren • Teubner-Texte zur Informatik • Verfahren • zellulare Automaten
ISBN-10	3-8154-2314-7 / 3815423147
ISBN-13	978-3-8154-2314-1 / 9783815423141
Zustand	Neuware