ITG-Fb. 231: Zuverlässigkeit und Entwurf
5. GI/GMM/ITG-Fachtagung vom 27. bis 29. September 2011 in Hamburg-Harburg
Seiten
2011
|
1., Neuerscheinung
VDE VERLAG
978-3-8007-3357-6 (ISBN)
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978-3-8007-3357-6 (ISBN)
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Die Fachtagung „Zuverlässigkeit und Entwurf" (ZuE) wird von der Kooperationsgemeinschaft Rechnergestützter Schaltungs- und Systementwurf (RSS) der GI/GMM/ITG 2011 in Hamburg-Harburg durchgeführt. Sicherheit und Robustheit mikroelektronischer Schaltungen und Systeme bilden dieses Jahr den besonderen Schwerpunkt der Fachtagung.
Reihe/Serie | ITG-Fachberichte |
---|---|
Sprache | englisch |
Maße | 210 x 297 mm |
Gewicht | 426 g |
Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
Schlagworte | Entwurfsautomatisierung • Kalibrierung • Mikroelektronik • Mikroelektronische Schaltung • Robustheitsprüfung • RSS • Schaltung |
ISBN-10 | 3-8007-3357-9 / 3800733579 |
ISBN-13 | 978-3-8007-3357-6 / 9783800733576 |
Zustand | Neuware |
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