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Reduction of Jfet Parameter Drift in IC Operational Amplifiers Using Statistical Process Characterization

, (Autoren)

Buch | Softcover
24 Seiten
1993
Pearson Education Australia (Verlag)
978-0-201-63429-7 (ISBN)
CHF 15,20 inkl. MwSt
  • Titel ist leider vergriffen;
    keine Neuauflage
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Erscheint lt. Verlag 28.2.1993
Reihe/Serie The Six Sigma Research Institute Series
Zusatzinfo illustrations
Verlagsort Frenchs Forest, NSW
Sprache englisch
Themenwelt Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik
Technik ► Maschinenbau
ISBN-10 0-201-63429-5 / 0201634295
ISBN-13 978-0-201-63429-7 / 9780201634297
Zustand Neuware
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