1997 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report
Stanford Sierra Camp, Lake Tahoe, California, October 13-16, 1997
Seiten
1997
IEEE Electron Devices Society (Verlag)
978-0-7803-4206-4 (ISBN)
IEEE Electron Devices Society (Verlag)
978-0-7803-4206-4 (ISBN)
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| Erscheint lt. Verlag | 1.1.1997 |
|---|---|
| Sprache | englisch |
| Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
| ISBN-10 | 0-7803-4206-2 / 0780342062 |
| ISBN-13 | 978-0-7803-4206-4 / 9780780342064 |
| Zustand | Neuware |
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