IEEE Recommended Practice for Latchup Test Methods for Cmos and Bicmos Integrated-Circuit Process Characterization

IEEE Electron Devices Society (Autor)

Buch | Softcover

36 Seiten

1997
IEEE Publications,U.S. (Verlag)
978-1-55937-152-0 (ISBN)

Produkt-Details

• Verlagsort: Piscataway NJ
• Sprache: englisch
• Maße: 260 x 330 mm
• Gewicht: 159 g
• Themenwelt: Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik
• ISBN-10: 1-55937-152-8 / 1559371528
• ISBN-13: 978-1-55937-152-0 / 9781559371520
• Zustand: Neuware