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Advances in Imaging and Electron Physics

Cumulative Index

Peter W. Hawkes (Herausgeber)

Buch | Hardcover
224 Seiten
1997
Academic Press Inc (Verlag)
978-0-12-014742-7 (ISBN)
CHF 189,95 inkl. MwSt
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Features articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in these domains.
"Advances in Imaging & Electron Physics" merges two long-running serials - "Advances in Electronics and Electron Physics" and "Advances in Optical & Electron Microscopy". The series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains. Volume 100 is a cumulative index for all in-print volumes of "Advances in Electronics and Electron Physics" (Volumes 63-89), "Advances in Imaging & Electron Physics" (Volumes 90-99), and "Advances in Optical & Electron Microscopy" (Volumes 1-14).

Cumulative index for all in-print volumes of: Advances in Electronics and Electron Physics, Volumes 63-89 Advances in Imaging & Electron Physics, Volumes 90-99 Advances in Optical & Electron Microscopy, Volumes 1-14

Erscheint lt. Verlag 31.12.1998
Mitarbeit Herausgeber (Serie): Tom Mulvey, Benjamin Kazan
Zusatzinfo b&w illustrations
Verlagsort San Diego
Sprache englisch
Maße 152 x 229 mm
Gewicht 472 g
Themenwelt Schulbuch / Wörterbuch Lexikon / Chroniken
Naturwissenschaften Physik / Astronomie Elektrodynamik
Naturwissenschaften Physik / Astronomie Optik
Technik
ISBN-10 0-12-014742-4 / 0120147424
ISBN-13 978-0-12-014742-7 / 9780120147427
Zustand Neuware
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