Zielorientierte Methodiken zum Bestehen der Europäischen Eignungsprüfung (EEP)
Patentrechtliche Grundlagen für Teile A, B, C, D
Seiten
2017
C.H.Beck (Verlag)
978-3-406-70789-6 (ISBN)
C.H.Beck (Verlag)
978-3-406-70789-6 (ISBN)
Zum WerkFür alle Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung (EEP) bietet das neue Werk zielorientierte Methodiken zum Bestehen der EEP in den Teilen A, B, C und D. Alle prüfungsrelevanten Themen sind in deutscher und englischer Sprache synoptisch dargestellt. Besonderes Gewicht wird auf inhaltlich gut strukturierte Hilfestellungen gelegt.Besonders hilfreich: Immer dort, wo es für die Methodiken nötig ist, sind auch patentrechtliche Grundlagen erläutert. Dabei wird jeweils auf Gesetze, Rechtsprechung und Prüfungsrichtlinien verwiesen.Vorteile auf einen Blick- Schritt-für-Schritt Vorgehensweisen- Zeitangaben pro Bearbeitungsschritt- Details der Punktevergabe- Prüfungsschemata für patentrechtliche Fragen- Formulierungsvorschläge und ganze Textpassagen- Tabellen als Bearbeitungshilfen- praktische Tipps für die PrüfungZielgruppe:Für Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung.
Erscheinungsdatum | 25.01.2017 |
---|---|
Sprache | englisch; deutsch |
Maße | 210 x 297 mm |
Gewicht | 668 g |
Themenwelt | Recht / Steuern ► Wirtschaftsrecht ► Urheberrecht |
Schlagworte | Eignungsbeurteilung • Europäische • Europäische Eignungsprüfung • Europarecht (EuR) • Patentanwalt • Patentanwaltskandidat • Patentrecht |
ISBN-10 | 3-406-70789-0 / 3406707890 |
ISBN-13 | 978-3-406-70789-6 / 9783406707896 |
Zustand | Neuware |
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