Patentmanagement
De Gruyter Oldenbourg (Verlag)
978-3-11-044344-8 (ISBN)
Dr. Lothar Walter; Frank C. Schnittker
"Wirklich hervorragend ist das Kapitel über die Patentanalyse. Es gibt nicht nur einen sehr guten Überblick zu den vielfältigen Aspekten des Themas, es zeigt auch anhand von Fallbeispielen, wie die Analysemethoden praktisch angewendet werden und welche Aussagekraft die Analysen entwickeln. [...] Sicher ist das Buch eine gute Einstiegslektüre, da es klar gegliedert ist, sich einer einfachen und klaren Sprache bedient und die unumgänglichen Fachbegriffe nachvollziehbar erläutert. Die vielen aussagekräftigen Abbildungen und Tabellen, helfen die Fülle der Inhalte zu strukturieren, ebenso das hervorragende Stichwortverzeichnis. Für einen ersten Überblick, insbesondere in die eigentlichen Kernthemen Recherche und Analyse von Patenten ist das Buch sehr zu empfehlen."
Alexander J. Wurzer in: Mitteilungen der deutschen Patentanwälte, Heft 10/2017, S. 475-476
Erscheint lt. Verlag | 8.8.2016 |
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Reihe/Serie | De Gruyter Studium |
Zusatzinfo | 47 b/w ill., 27 b/w tbl. |
Verlagsort | Basel/Berlin/Boston |
Sprache | deutsch |
Maße | 170 x 240 mm |
Gewicht | 625 g |
Themenwelt | Recht / Steuern ► Wirtschaftsrecht |
Wirtschaft ► Betriebswirtschaft / Management | |
Schlagworte | China • Deutschland • Europa • IP-Management • Patentanalyse • Patentmanagement • Patentpolitik • Patentrecherche • Patentstrategie • Unternehmen • USA • Wissensmanagement |
ISBN-10 | 3-11-044344-9 / 3110443449 |
ISBN-13 | 978-3-11-044344-8 / 9783110443448 |
Zustand | Neuware |
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