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Applications and Metrology at Nanometer–Scale 2 – Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method

PR Dahoo (Autor)

Software / Digital Media
288 Seiten
2021
Wiley-Blackwell (Hersteller)
978-1-119-81898-4 (ISBN)
CHF 219,95 inkl. MwSt
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Erscheint lt. Verlag 29.4.2021
Verlagsort Hoboken
Sprache englisch
Maße 150 x 250 mm
Gewicht 666 g
ISBN-10 1-119-81898-2 / 1119818982
ISBN-13 978-1-119-81898-4 / 9781119818984
Zustand Neuware
Informationen gemäß Produktsicherheitsverordnung (GPSR)
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