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Modellierung höhenstrahlungsinduzierter Ausfälle in Halbleiterleistungsbauelementen - Winfried Kaindl

Modellierung höhenstrahlungsinduzierter Ausfälle in Halbleiterleistungsbauelementen

(Autor)

Buch | Softcover
157 Seiten
2005 | 1., Aufl.
Shaker (Verlag)
978-3-8322-4585-6 (ISBN)
CHF 68,30 inkl. MwSt
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  • 19
Reihe/Serie Selected Topics of Electronics and Micromechatronics /Ausgewählte Probleme der Elektronik und Mikromechatronik ; 19
Sprache deutsch
Maße 148 x 210 mm
Gewicht 236 g
Einbandart Paperback
Themenwelt Naturwissenschaften Physik / Astronomie Mechanik
Schlagworte 2005 • Bauelementphysik • Halbleiterphysik • HC/Physik, Astronomie/Mechanik, Akustik • Höhenstrahlung • Robustheit • Simulation • Technische Universität München
ISBN-10 3-8322-4585-5 / 3832245855
ISBN-13 978-3-8322-4585-6 / 9783832245856
Zustand Neuware
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