Material Characterization using Electron Holography (eBook)
240 Seiten
Wiley-VCH GmbH (Verlag)
978-3-527-82969-9 (ISBN)
Daisuke Shindo is Team Leader, RIKEN Center for Emergent Matter Science and Professor Emeritus, Tohoku University. He is Fellow of the Japan Institute of Metals and Materials, and also Fellow of Korean Society of Microscopy. He has been involved in high-resolution electron microscopy and analytical electron microscopy for microstructure characterization of various materials for more than 30 years. He is currently interested in electromagnetic-field observation of advanced materials by electron holography of collective motions of electrons through electromagnetic field variations. Takeshi Tomita developed various instruments of electron microscopes, especially electron guns and lens systems in JEOL Ltd. for more than 40 years. He was involved in the project of the development of Cs-corrected TEMs. He is also attributed to the development of a secondary electron energy analyzer for TEMs. He has deep knowledge about the electromagnetic field and the special relativity.
PART I THEORY AND PRINCIPLES
Importance of Electromagnetic Field and ist Visualization
Maxwell's Equations Formulated by Special Relativity
de Broglie Waves and Wave Function
Outlines of General Relativity and Einstein's Equations
Principles of Electron Holography
Related Techniques
Simulation of Holograms and Visualized Electromagnetic Field
PART II APPLICATION
Electric Field Analysis
In Situ Observation of Electric Field
Magnetic Field Analysis
In Situ Observation of Magnetic Field
Control and Visualization of Collective Motions of Electrons
Interaction between Electrons and Charged Specimen Surfaces
Interpretation of Visualization of Collective Motions of Electrons
Erscheint lt. Verlag | 24.8.2022 |
---|---|
Sprache | englisch |
Themenwelt | Naturwissenschaften ► Chemie |
Schlagworte | Chemie • Chemistry • Electrical & Electronics Engineering • Electronic materials • Elektronenholographie • Elektronische Materialien • Elektrotechnik u. Elektronik • materials characterization • Materials Science • Materialwissenschaften • Microscopy • Mikroskopie • Werkstoffprüfung |
ISBN-10 | 3-527-82969-5 / 3527829695 |
ISBN-13 | 978-3-527-82969-9 / 9783527829699 |
Haben Sie eine Frage zum Produkt? |
Größe: 11,4 MB
Kopierschutz: Adobe-DRM
Adobe-DRM ist ein Kopierschutz, der das eBook vor Mißbrauch schützen soll. Dabei wird das eBook bereits beim Download auf Ihre persönliche Adobe-ID autorisiert. Lesen können Sie das eBook dann nur auf den Geräten, welche ebenfalls auf Ihre Adobe-ID registriert sind.
Details zum Adobe-DRM
Dateiformat: PDF (Portable Document Format)
Mit einem festen Seitenlayout eignet sich die PDF besonders für Fachbücher mit Spalten, Tabellen und Abbildungen. Eine PDF kann auf fast allen Geräten angezeigt werden, ist aber für kleine Displays (Smartphone, eReader) nur eingeschränkt geeignet.
Systemvoraussetzungen:
PC/Mac: Mit einem PC oder Mac können Sie dieses eBook lesen. Sie benötigen eine
eReader: Dieses eBook kann mit (fast) allen eBook-Readern gelesen werden. Mit dem amazon-Kindle ist es aber nicht kompatibel.
Smartphone/Tablet: Egal ob Apple oder Android, dieses eBook können Sie lesen. Sie benötigen eine
Geräteliste und zusätzliche Hinweise
Buying eBooks from abroad
For tax law reasons we can sell eBooks just within Germany and Switzerland. Regrettably we cannot fulfill eBook-orders from other countries.
aus dem Bereich