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Electron Back Scatter Diffraction

Angus J Wilkinson (Autor)

Buch | Softcover

160 Seiten

2001
Springer-Verlag New York Inc.
978-0-387-91621-7 (ISBN)

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Electron back scatter diffraction (EBSD) is an immensely powerful method of characterizing microstructure. The technique is used in many scanning electron microscopes to examine the structure, pattern, and orientation of samples and is an important tool in materials science, physics, and earth science labs. This up-to-date, comprehensive introduction covers the theory of EBSD, pattern formation, recording EBSD patterns, calibration, and orientation measurement.

Erscheint lt. Verlag	1.1.2010
Zusatzinfo	Illustrations, unspecified
Verlagsort	New York
Sprache	englisch
Einbandart	Paperback
Themenwelt	Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Allgemeines / Lexika
ISBN-10	0-387-91621-0 / 0387916210
ISBN-13	978-0-387-91621-7 / 9780387916217
Zustand	Neuware