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Epitaxial graphene on SiC for quantum resistance metrology - Mattias Kruskopf

Epitaxial graphene on SiC for quantum resistance metrology

Buch | Softcover
122 Seiten
2017
Fachverlag NW in Carl Ed. Schünemann KG
978-3-95606-325-1 (ISBN)
CHF 25,20 inkl. MwSt
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E-111: M. Kruskopf:
Expitaxial graphene on SiC for quantum resistance metrology
Engl., 122. S., 59 Abb., ISBN 978-3-95606-325-1, 2017€ 18,00
In this thesis, processes for the fabrication of a new generation of graphene-based resistance standards were developed. To overcome the challenges of standard epitaxial growth techniques e.g. the formation of high step edges in the silicon carbide substrate and the formation of bilayer graphene the new methods apply different ways to control the amount of available carbon during the growth stages.
Erscheinungsdatum
Reihe/Serie PTB-Berichte. Elektrizität (E) ; 111
Verlagsort Bremen
Sprache englisch
Maße 210 x 297 mm
Gewicht 454 g
Themenwelt Naturwissenschaften Physik / Astronomie Elektrodynamik
Schlagworte Einheit Ohm • Elektrizität • Graphene • Metrology • PTB • Quantennormale
ISBN-10 3-95606-325-2 / 3956063252
ISBN-13 978-3-95606-325-1 / 9783956063251
Zustand Neuware
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