Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II

Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979

A. Benninghoven, C.A. Jr. Evans, R.A. Powell, R. Shimizu, H.A. Storms (Herausgeber)

Buch | Softcover

XIV, 300 Seiten

2011 | 1. Softcover reprint of the original 1st ed. 1979
Springer Berlin (Verlag)
978-3-642-61873-4 (ISBN)

Inhalt

I. Fundamentals Chairpersons: D.E. Harrison and C.A. Evans, Jr..- II. Quantitation Chairpersons: D.B. Wittry and P. Williams.- III. Semiconductors Chairpersons: C.W. Magee and W. Werner.- IV. Static SIMS Chairperson: A. Benninghoven.- V. Metallurgy Chairpersons: J.D. Brown and A.P. von Rosenstiel.- VI. Instrumentation Chairpersons: D.S. Simons and F.G. Rüdenauer.- VII. Geology Chairpersons: J. Okano and C. Meyer.- VIII. Panel Discussion Chairperson: I.L. Kofsky.- IX. Biology Chairpersons: M.S. Burns and G.H. Morrison.- X. Combined Techniques Chairpersons: C. Johnson and W.H. Christie.- XI. Postdeadline Papers.- Index of Authors.

Produkt-Details

• Erscheint lt. Verlag: 13.12.2011
• Reihe/Serie: Springer Series in Chemical Physics
• Zusatzinfo: XIV, 300 p.
• Verlagsort: Berlin
• Sprache: englisch
• Maße: 152 x 229 mm
• Gewicht: 465 g
• Themenwelt: Naturwissenschaften ► Chemie ► Analytische Chemie
• Themenwelt: Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Allgemeines / Lexika
• Schlagworte: Massenspektrometrie • Mass Spectrometry
• ISBN-10: 3-642-61873-1 / 3642618731
• ISBN-13: 978-3-642-61873-4 / 9783642618734
• Zustand: Neuware