Elektronenmikroskopie in der Festkörperphysik

Buch | Softcover

564 Seiten

2012 | 1. Softcover reprint of the original 1st ed. 1982
Springer Berlin (Verlag)
978-3-642-93212-0 (ISBN)

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Die Elektronenmikroskopie als Methode zur direkten Abbildung submikroskopi scher Strukturen hat in den letzten Jahrzehnten auf nahezu allen Gebieten der naturwissenschaftlichen, technischen und medizinischen Forschung auBerordentlich an Bedeutung gewonnen. Im vorliegenden Buch wird iiber den Einsatz der Elek tronenmikroskopie in der Festkorperphysik lind in der Werkstofforschung be richtet. Im Hinblick darauf, daB die moderne Werkstofforschung ihre wesentlichen Grundlagen in der Festkorperphysik hat, wurde der Kurztitel "Elektronenmikro skopie in der Festkorperphysik" gewahlt. Das Buch ist in die beiden Teile "Elektronenmikroskopische Untersuchungs verfahren" und "Anwendungen in der Festkorperphysik" gegliedert. Im erst en Teil werden die Moglichkeiten und Grenzen der in der Festkorperphysik eingesetzten elektronenmikroskopischen Untersuchungsverfahren beschrieben, wobei die zu verlassige Interpretation elektronenmikroskopischer Aufnahmen (Bildentstehung, Bildauswertung) besondere Beachtung findet. Im Anwendungsteil des Buches sind - ohne Anspruch auf Vollstandigkeit zu erheben - diejenigen Gebiete der Fest korperphysik und Werkstofforschung erfaBt, in denen die Elektronenmikroskopie einen wesentlichen Beitrag leisten kann. Neben einigen besonderen Ergebnissen aus verschiedenen Laboratorien in aller Welt konnte bei der Auswahl der zu be handelnden Themen und Untersuchungsbeispiele weitgehend auf die im Institut der Autoren durchgefiihrten Arbeiten und daraus vorliegendem Bildmaterial zuriickgegriffen werden.

I: Elektronenmikroskopische Untersuchung verfahren.- 1. Konventionelle Elektronenmikroskopie: Elektronenoptische und gerätetechnische Grundlagen.- 2. Konventionelle Elektronenmikroskopie: Bildentstehung.- 3. Hochauflösungs-Elektronenmikroskopie.- 4. Höchstspannungs-Elektronenmikroskopie.- 5. Raster-Elektronenmikroskopie: Elektronenoptische und gerätetechnische Grundlagen.- 6. Raster-Elektronenmikroskopie: Physikalische Grundlagen der Kontrastentstehung.- 7. Indirekte Oberflächenabbildung durch Abdruck- und Dekorationstechnik.- 8. Spezielle Verfahren zur Direktabbildung von Oberflächen: Emissions-Elektronenmikroskopie, Spiegel-Elektronenmikroskopie.- 9. Analytische Elektronenmikroskopie: Kombination von abbildenden und spektrometrischen Methoden.- 10. Bildverarbeitung mit optischen und elektronischen Verfahren.- II: Anwendungen in der Festkörperphysik.- 11. Gitterdefekt-Abbildung durch elektronenmikroskopischen Beugungskontrast.- 12. Elementare Vorgänge bei der plastischen Verformung.- 13. Mikroprozesse des Bruches.- 14. Elektronenmikroskopische Fraktographie.- 15. Morphologie der Polymere.- 16. Defekte in Halbleitern und Bauelementestrukturen.- 17. Molekulare Prozesse auf Kristalloberflächen.- 18. Wachstum und Struktur dünner Schichten.- 19. Versetzungsstrukturen in Korngrenzen und Phasengrenzen.- 20. Domänenstruktur ferroelektrischer und ferromagnetischer Festkörper.- Anhang 1: Theoretische Grundlagen des elektronenmikroskopischen Beugungskontrastes (einschl. Computersimulation der Abbildung von Kristalldefekten).- K. Scheerschmidt.- Anhang 2: Durchstrahlungs-Elektronenmikroskopie: Präparationstechnischer Überblick.- H. Bartsch.- Literaturübersicht zur Elektronenmikroskopie.

Erscheint lt. Verlag	17.3.2012
Zusatzinfo	564 S.
Verlagsort	Berlin
Sprache	deutsch
Maße	170 x 244 mm
Gewicht	966 g
Themenwelt	Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Festkörperphysik
Themenwelt	Technik ► Maschinenbau
Schlagworte	Elektronenmikroskopie • Festkörperphysik
ISBN-10	3-642-93212-6 / 3642932126
ISBN-13	978-3-642-93212-0 / 9783642932120
Zustand	Neuware