Angewandte Oberflächenanalyse
Mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie. AES Auger-Elektronen-Spektrometrie - XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
1986
Springer Berlin (Hersteller)
978-3-540-15050-3 (ISBN)
Springer Berlin (Hersteller)
978-3-540-15050-3 (ISBN)
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| Zusatzinfo | 154 Abb., 20 Tab. IX,300 Seiten. |
|---|---|
| Sprache | deutsch |
| Gewicht | 672 g |
| Themenwelt | Naturwissenschaften ► Chemie ► Analytische Chemie |
| Naturwissenschaften ► Chemie ► Physikalische Chemie | |
| Schlagworte | Oberflächenanalyse • Röntgenfotoelektronenspektroskopie • Röntgenfotoelektronenspektroskopie (XPS) • Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) • Spektrometrie • Spektroskopie |
| ISBN-10 | 3-540-15050-1 / 3540150501 |
| ISBN-13 | 978-3-540-15050-3 / 9783540150503 |
| Zustand | Neuware |
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