Surfaces and Interfaces of Electronic Materials
Wiley-VCH (Verlag)
978-3-527-40915-0 (ISBN)
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Dieses Lehrbuch für Fortgeschrittene behandelt die geometrische, chemische und Elektronenstruktur elektronischer Materialien und ihre Anwendung auf Bauelemente mit Halbleiter-Grenzflächen, Metall-Halbleiter-Grenzflächen und Halbleiter-Heterokontakten. Ausgehend von der theoretischen und technischen Erläuterung üblicher Messverfahren wird ein breites Spektrum von Methoden zur Charakterisierung elektronischer, optischer, chemischer und struktureller Eigenschaften vorgestellt, die sich nicht nur für Halbleiter, sondern auch für Isolatoren, Nanostrukturen und organische Werkstoffe eignen. Großzügige Literaturhinweise erleichtern, wenn gewünscht, das tiefere Einarbeiten. Mit zahlreichen Beispielen und Übungsaufgaben!
Leonard Brillson is a professor of Electrical & Computer Engineering, Physics, and Center for Materials Research Scholar at The Ohio State University in Columbus, OH, USA. Prior to that, he was director of Xerox Corporation's Materials Research Laboratory and had responsibility for Xerox's long-range physical science and technology programs at the company's research headquarters in Rochester, N.Y. He is a Fellow of IEEE, AAAS, AVS, and APS, and a former Governing Board member of the American Institute of Physics. He has authored over 300 scientific publications and received numerous scientific awards, including the AVS Gaede-Langmuir Award.
Preface
1. Introduction
2. Historical Background
3. Electrical Measurements
4. Interface states
5. Ultrahigh vacuum technology
6. Surface and interface analysis
7. Photoemission spectroscopy
8. Photoemission with soft X-rays
9. Particle-solid scattering
10. Electron energy loss spectroscopy
11. Rutherford backscattering spectrometry
12. Secondary ion mass spectrometry
13. Electron diffraction
14. Scanning tunneling microscopy
15. Optical spectroscopies
16. Cathodoluminescence spectroscopy
17. Electronic Materials' Surfaces
18. Adsorbates on Electronic Materials' Surfaces
19. Adsorbate-Semiconductor Sensors
20. Heterojunctions
21. Metals on semiconductors
22. The future of interfaces
Appendices
| Erscheint lt. Verlag | 10.3.2010 |
|---|---|
| Reihe/Serie | Wiley - IEEE |
| Sprache | englisch |
| Maße | 170 x 240 mm |
| Gewicht | 1235 g |
| Themenwelt | Naturwissenschaften ► Chemie |
| Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Atom- / Kern- / Molekularphysik | |
| Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Elektrodynamik | |
| Schlagworte | Dünne Schichten, Oberflächen u. Grenzflächen • Dünnschichttechnologie • Electrical & Electronics Engineering • Electrical & Electronics Engineering • Electronic materials • Elektronikbauelemente • Elektronische Materialien • Elektrotechnik u. Elektronik • Festkörperphysik • Grenzfläche • Halbleiterphysik • Materials Science • Materialwissenschaften • MEMS (Mikroelektromechanische Systeme) • Nanomaterialien • nanomaterials • Nanotechnologie • nanotechnology • Oberfläche • Physics • Physik • Semiconductor physics • Thin Films, Surfaces & Interfaces • Thin Films, Surfaces & Interfaces |
| ISBN-10 | 3-527-40915-7 / 3527409157 |
| ISBN-13 | 978-3-527-40915-0 / 9783527409150 |
| Zustand | Neuware |
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