Nicht aus der Schweiz? Besuchen Sie lehmanns.de
Für diesen Artikel ist leider kein Bild verfügbar.

Trace and Log Analysis

A Pattern Reference for Diagnostics and Anomaly Detection, Third Edition

, (Autoren)

Buch | Softcover
308 Seiten
2019 | 3rd ed.
Opentask (Verlag)
978-1-912636-04-4 (ISBN)
CHF 83,45 inkl. MwSt
  • Keine Verlagsinformationen verfügbar
  • Artikel merken
Erscheinungsdatum
Zusatzinfo 204 Illustrations
Sprache englisch
Maße 140 x 216 mm
Gewicht 494 g
Themenwelt Informatik ► Datenbanken ► Data Warehouse / Data Mining
Informatik ► Software Entwicklung ► Qualität / Testen
ISBN-10 1-912636-04-2 / 1912636042
ISBN-13 978-1-912636-04-4 / 9781912636044
Zustand Neuware
Haben Sie eine Frage zum Produkt?
Mehr entdecken
aus dem Bereich
R für Data Science - Hadley Wickham; Mine Çetinkaya-Rundel …
R für Data Science
Daten importieren, bereinigen, umformen und visualisieren

von Hadley Wickham; Mine Çetinkaya-Rundel …

Buch | Softcover (2024)
O'Reilly (Verlag)
CHF 76,85
Machine Learning – kurz & gut - Oliver Zeigermann; Chi Nhan Nguyen
Machine Learning – kurz & gut
eine Einführung mit Python, Scikit-Learn und TensorFlow

von Oliver Zeigermann; Chi Nhan Nguyen

Buch | Softcover (2024)
O'Reilly (Verlag)
CHF 27,85
Access - Wolfram Langer
Access
Das umfassende Handbuch

von Wolfram Langer

Buch | Hardcover (2023)
Rheinwerk (Verlag)
CHF 69,85
auf Facebook teilen
bei Twitter
Link zu dieser Seite kopieren