21st IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in Vlsi Systems

Buch | Softcover

600 Seiten

2006 | Illustrated edition
IEEE Computer Society Press,U.S. (Verlag)
978-0-7695-2706-2 (ISBN)

Produkt-Details

• Erscheint lt. Verlag: 31.1.2006
• Reihe/Serie: IEEE Conference Proceedings
• Verlagsort: Los Alamitos
• Sprache: englisch
• Themenwelt: Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik
• ISBN-10: 0-7695-2706-X / 076952706X
• ISBN-13: 978-0-7695-2706-2 / 9780769527062
• Zustand: Neuware