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Modellierung des Durchbruchverhaltens von Si-/SiGe-Bipolartransistoren in schnellen integrierten Schaltungen - Matthias Rickelt

Modellierung des Durchbruchverhaltens von Si-/SiGe-Bipolartransistoren in schnellen integrierten Schaltungen

Buch | Softcover
210 Seiten
2005 | 1., Aufl.
Shaker (Verlag)
978-3-8322-4071-4 (ISBN)
CHF 69,70 inkl. MwSt
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Reihe/Serie Berichte aus der Elektrotechnik
Sprache deutsch
Maße 148 x 210 mm
Gewicht 315 g
Einbandart Paperback
Themenwelt Technik Elektrotechnik / Energietechnik
Schlagworte HC/Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik • Simulation
ISBN-10 3-8322-4071-3 / 3832240713
ISBN-13 978-3-8322-4071-4 / 9783832240714
Zustand Neuware
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