Computed Electron Micrographs and Defect Identification
Seiten
1973
978-0-7204-1757-9 (ISBN)
978-0-7204-1757-9 (ISBN)
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| Reihe/Serie | Defects in Crystalline Solids S. |
|---|---|
| Zusatzinfo | 134ill.23tabs. |
| Verlagsort | Amsterdam |
| Sprache | englisch |
| Maße | 150 x 230 mm |
| ISBN-10 | 0-7204-1757-0 / 0720417570 |
| ISBN-13 | 978-0-7204-1757-9 / 9780720417579 |
| Zustand | Neuware |
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