Interferenzschichten-Mikroskopie
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Wissenschaftliche Forschungsberichte, Reihe I, Abt.A,Band 73
Die Optik dunner Schichten hat zahlreiche Anwendungen in Physik und Technik gefunden. In der vorliegenden Schrift wird uber ein neueres Anwendungsgebiet berichtet: die Ausnutzung der Interferenzerscheinung dunner Schichten zur Be obachtung mikroskopischer Strukturen. Die Bezeichnung "Interferenzschichten Mikroskopie" beinhaltet diese mikroskopische Methodik. Damit ein mikroskopisches Bild die gewunschte Information liefert, bedarf es verschiedener Kunstgriffe, die einmal darin bestehen konnen, daB chemische Ein griffe am Untersuchungsobjekt vorgenommen werden (Farbe- und Atzmethoden). Zum anderen bedient man sich zur "Strukturentwicklung" optischer Verfahren durch einen Eingriff in den mikroskopischen Strahlengang (Phasenkontrast-, Interferenzmikroskopie). Die Interferenzschichten-Mikroskopie nimmt insofern eine Sonderstellung unter den lichtmikroskopischen Verfahren ein, als - unter Verzicht auf jeglichen chemischen Eingriff - ein "optischer Eingriff" am Mikro skoppraparat erfolgt, indem dieses selbst zu einer Interferenzanordnung mit Hilfe aufgedampfter Interferenzschichten umgestaltet wird. Nachdem die Interferenzschichten-Mikroskopie inzwischen zahlreiche An wendungen gefundcn hat, darf festgestellt werden, daB sie nicht nur eine nutzliche Erganzung der herkommlichen mikroskopischen Methoden bildet, sondern in vielen Fallen sich als .uberlegen erwiesen hat. Die allgemeinen GesetzmaBigkeiten der Optik dunner Schichten auf nicht absorbierenden und absorbierenden Tragern werden lediglich in einem solchen U mfang abgehandelt, wie es zum Verstandnis des Verfahrens notwendig erscheint, und die Erfolge, die mit Hilfe des Verfahrens erzielbar sind, werden durch eine angemessene Anzahl Mikrophotographien (einige im Farbdruck) demonstriert.
Die Optik dunner Schichten hat zahlreiche Anwendungen in Physik und Technik gefunden. In der vorliegenden Schrift wird uber ein neueres Anwendungsgebiet berichtet: die Ausnutzung der Interferenzerscheinung dunner Schichten zur Be obachtung mikroskopischer Strukturen. Die Bezeichnung "Interferenzschichten Mikroskopie" beinhaltet diese mikroskopische Methodik. Damit ein mikroskopisches Bild die gewunschte Information liefert, bedarf es verschiedener Kunstgriffe, die einmal darin bestehen konnen, daB chemische Ein griffe am Untersuchungsobjekt vorgenommen werden (Farbe- und Atzmethoden). Zum anderen bedient man sich zur "Strukturentwicklung" optischer Verfahren durch einen Eingriff in den mikroskopischen Strahlengang (Phasenkontrast-, Interferenzmikroskopie). Die Interferenzschichten-Mikroskopie nimmt insofern eine Sonderstellung unter den lichtmikroskopischen Verfahren ein, als - unter Verzicht auf jeglichen chemischen Eingriff - ein "optischer Eingriff" am Mikro skoppraparat erfolgt, indem dieses selbst zu einer Interferenzanordnung mit Hilfe aufgedampfter Interferenzschichten umgestaltet wird. Nachdem die Interferenzschichten-Mikroskopie inzwischen zahlreiche An wendungen gefundcn hat, darf festgestellt werden, daB sie nicht nur eine nutzliche Erganzung der herkommlichen mikroskopischen Methoden bildet, sondern in vielen Fallen sich als .uberlegen erwiesen hat. Die allgemeinen GesetzmaBigkeiten der Optik dunner Schichten auf nicht absorbierenden und absorbierenden Tragern werden lediglich in einem solchen U mfang abgehandelt, wie es zum Verstandnis des Verfahrens notwendig erscheint, und die Erfolge, die mit Hilfe des Verfahrens erzielbar sind, werden durch eine angemessene Anzahl Mikrophotographien (einige im Farbdruck) demonstriert.
I. Einleitung.- II. Optik der Interferenzschichten auf absorbierenden Oberflächen.- III. Durchführung des Verfahrens.- IV. Beispiele für die Gefügeentwicklung, (Hellfeldbeobachtung).- V. Quantitative mikroskopische Untersuchungen mit Hilfe aufgedampfter Interferenzschichten.- VI. Mehrschichtensysteme.- VII. Mikroskopie dünner Phasenobjekte mittels Durchlichtinterferenzfilter.- VIII. Das Interferenzschichten-Verfahren in der Polarisationsmikroskopie.- IX. Polarisationsmikroskopische Beobachtung magnetischer Bereiche.- X. Ferromagnetische Halbleiter als Interferenzschichten.- Literaturnachweis.
| Erscheint lt. Verlag | 1.1.1970 |
|---|---|
| Reihe/Serie | Wissenschaftliche Forschungsberichte |
| Zusatzinfo | VIII, 80 S. 40 Abb., 3 Abb. in Farbe. |
| Verlagsort | Heidelberg |
| Sprache | deutsch |
| Gewicht | 175 g |
| Themenwelt | Naturwissenschaften ► Chemie ► Analytische Chemie |
| Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Atom- / Kern- / Molekularphysik | |
| Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Festkörperphysik | |
| Schlagworte | Druck • Entwicklung • Farbe • Fotografie • Halbleiter • Hoden • Information • Lichtmikroskop • Mikroskopie • Mischen • Optik • Ordnung • Phasen • Physik • Wiese |
| ISBN-10 | 3-7985-0316-8 / 3798503168 |
| ISBN-13 | 978-3-7985-0316-8 / 9783798503168 |
| Zustand | Neuware |
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