Secondary Ion Mass Spectrometry. SIMS IV.

Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983

Alfred Benninghoven, J. Okano, R. Shimizu, H. W. Werner (Herausgeber)

1984
Springer Berlin (Hersteller)
978-3-540-13316-2 (ISBN)

Produkt-Details

• Zusatzinfo: 415 figs. XV,503 pages.
• Verlagsort: Berlin
• Sprache: englisch
• Gewicht: 945 g
• Einbandart: gebunden
• Themenwelt: Naturwissenschaften ► Chemie ► Physikalische Chemie
• Themenwelt: Naturwissenschaften ► Physik / Astronomie ► Festkörperphysik
• ISBN-10: 3-540-13316-X / 354013316X
• ISBN-13: 978-3-540-13316-2 / 9783540133162
• Zustand: Neuware